eos英文全称 electrical over stress，是对所有的过度电性应力的总称。当eos超过其最大指定极限后，器件功能会减弱或损坏，同时eos也是公认的ic器件的头号杀手。它可能会发生在产品的研发、测试乃至生产、存储、运输的任何一个环节。eos的发生情况复杂，以下总结一下eos失效产生的几种原因:
1.电源(ac/dc) 干扰、电源噪声和过电压。
2.来自其它设备的脉冲信号干扰,即从其它装置发送的脉冲。
3.测试程序开关引起的瞬态毛刺短时脉冲波形干扰。
4.产品本身设计缺陷(包含线路结构及pcb layout布局等等)或工艺缺陷。
5.测试设计欠佳,例如,在器件尚未加电或已超过其操作上限的情况下给器件发送测试信号。再比如在对器件供电之前加入测试信号,或超过最大操作条件。
6.测试程序开关引起的瞬态毛刺短时脉冲波形干扰。
7.接地点反跳(由于接地点不够导致电流快速转换引起高电压)。
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什么是eos？eos是怎么产生的？